Art of Stat: Concepts

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關於這個應用程式

探索中心極限定理,了解相關係數和線性回歸,並可視化假設檢驗中置信區間或 I 類和 II 類錯誤的覆蓋概率。

通過逐步體驗這些重要概念來建立理解。適用於統計學的學生和教師。

The Art of Stat: Concepts 應用程序提供對以下模塊的訪問:

- 均值中心極限定理
- 比例中心極限定理
- 探索相關性
- 探索線性回歸
- 探索報導
- 錯誤與權力

CLT:從幾個真實的人口分佈(左右偏斜或相當對稱)中選擇並模擬從人口中抽取樣本。

逐步可視化抽樣分佈的構建方式。探索增加樣本量時對抽樣分佈的影響。覆蓋正態分佈。

在視覺上和關鍵統計數據方面比較均值的抽樣分佈與總體分佈。

探索相關性/線性回歸:通過在屏幕上按 Tab 鍵在散點圖中創建(和刪除)點。顯示回歸線或殘差。模擬散點圖並猜測相關係數。

覆蓋率和誤差:探索總體均值或比例的置信區間的 95% 覆蓋率意味著什麼。

查看類型 I 和類型 II 錯誤並探索它們如何依賴於樣本大小和真實參數值。查找並可視化假設檢驗的功效。
更新日期
2024年10月26日

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