Characterization of Nanostructures
Sverre Myhra · John C. Rivière
jun 2012 · CRC Press
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The techniques and methods that can be applied to materials characterization on the microscale are numerous and well-established. Divided into two parts, Characterization of Nanostructures provides thumbnail sketches of the most widely used techniques and methods that apply to nanostructures, and discusses typical applications to single nanoscale o
Acerca del autor
Sverre Myhra and John Riviere are affiliated with Oxford University, UK.
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