Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy
Thomas Vogt · Wolfgang Dahmen · Peter Binev
2012年3月 · Springer Science & Business Media
電子書籍
182
ページ
report評価とレビューは確認済みではありません 詳細
この電子書籍について
Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing.
著者について
Thomas Vogt is Director of the NanoCenter Educational Foundation and Distinguished Professor of Chemistry & Biochemistry at the University of South Carolina.
Wolfgang Dahmen is a professor at RWTH Aachen.
Peter G. Binev is a Professor of Mathematics at the University of South Carolina.
この電子書籍を評価する
ご感想をお聞かせください。
読書情報
スマートフォンとタブレット
Android や iPad / iPhone 用の Google Play ブックス アプリをインストールしてください。このアプリがアカウントと自動的に同期するため、どこでもオンラインやオフラインで読むことができます。
ノートパソコンとデスクトップ パソコン
Google Play で購入したオーディブックは、パソコンのウェブブラウザで再生できます。
電子書籍リーダーなどのデバイス
Kobo 電子書籍リーダーなどの E Ink デバイスで読むには、ファイルをダウンロードしてデバイスに転送する必要があります。サポートされている電子書籍リーダーにファイルを転送する方法について詳しくは、ヘルプセンターをご覧ください。
